問19
作業環境測定におけるX線回折分析法に関する次の記述のうち、誤っているものはどれか。
- (1)この分析法は、結晶性の物質の同定や定量に使われる。
- (2)この分析法は、ガラスプリズムで単色化させたX線を試料に照射して行われる。
- (3)回折線は、ブラッグの条件に従って生じる。
- (4)フィルターに捕集した試料を、そのまま分析することができる。
- (5)X線の回折角度の測定にゴニオメータを用いる。
正答 (2)
X 線は、ガラスプリズムでは単色化できません。X 線回折分析法では、金属薄膜のフィルターやモノクロメーター(結晶)で単一の波長の X 線を取り出します。選択肢2は誤りです。
この問題のひっかけパターン:特性X線を使う(連続X線ではない)
単色化した特性X線を使う。特性X線の波長はターゲットの元素で決まり、電圧では変わらない。
出典:公益財団法人 安全衛生技術試験協会 公表試験問題(平成28年度 第2回・2017年2月実施)